粒度測試是通過特定的儀器和方法對粉體粒度特性進(jìn)行表征的一項實驗工作。不同的應(yīng)用領(lǐng)域?qū)Ψ垠w特性的要求也是不相同的，在所有反映粉體特性的指標(biāo)中，粒度分布是所有應(yīng)用領(lǐng)域中最為關(guān)注的一項。

粉體粒徑相關(guān)概念

在一定尺寸范圍內(nèi)具有特定形狀的幾何體稱為顆粒，大量不同尺寸的顆粒組成的顆粒群即為粉體。顆粒的大小稱為粒度或粒徑，用特定的儀器和方法反映出的不同粒徑顆粒占粉體總量的百分?jǐn)?shù)就是粒度分布，常用表格法、圖形法和函數(shù)法進(jìn)行表示。

在粒度分布的指標(biāo)里，D50是中位徑，表示樣品累計粒度分布數(shù)達(dá)到50%所對應(yīng)的粒徑，物理意義是粒徑大于它和小于它的顆粒各占50%；D97常表示粗端粒度指標(biāo)，物理意義是粒徑小于它的顆粒占97%。

此外，還有比表面積等關(guān)鍵指標(biāo)，顆粒的粒度越細(xì)，比表面積越大，但這種關(guān)系并不一定成正比。

粒度測試方法優(yōu)劣

激光法操作簡便，測試速度快、范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好。但結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價較高。

動態(tài)圖像法直觀清晰，拍攝與分析速度快，可測量最大顆粒，也可進(jìn)行形貌分析，但細(xì)顆粒誤差較大，成本較高。靜態(tài)圖像法成本較低，但分析速度慢，無法分析細(xì)顆粒。

電鏡法能精確分析納米顆粒和超細(xì)顆粒，分辨率高，是表征納米材料粒度的標(biāo)準(zhǔn)方法。但單幅圖像中的顆粒數(shù)少，代表性差，儀器價格昂貴。

光阻法測試速度快，分辨力高，樣品用量少。但進(jìn)樣系統(tǒng)比較復(fù)雜，不適用粒徑<1μm 的樣品。電阻法可測顆粒數(shù)，等效概念明確，準(zhǔn)確性好，但不適合超細(xì)樣品和寬分布樣品。

沉降法儀器可以連續(xù)運行，價格較低，測試范圍較大。但測試時間較長，操作較復(fù)雜，結(jié)果易受環(huán)境因素的影響。

篩分法簡單直觀，設(shè)備造價低，常用于大于400目的樣品。但不能用于超細(xì)樣品，結(jié)果受篩孔變形和人為因素的影響較大。

動態(tài)光散射法測試范圍寬、測試速度快，重復(fù)性好。但測試寬分布的納米材料誤差較大。

超聲波法可對高濃度漿料進(jìn)行現(xiàn)場測量，無需取樣。但分辨率較低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較差，結(jié)果易受環(huán)境因素影響。

透氣法可直接測量干粉，可測磁性材料粉體。但只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。

埃爾派建有物料試驗車間，試驗專用設(shè)備齊全。粉體實驗中心配備有英國馬爾文MS3000激光粒度儀等先進(jìn)儀器，可根據(jù)客戶需求進(jìn)行粒度、白度、密度、比表面積、圖像等檢測，還可提供小試、中試、大試甚至1:1來料實驗。實驗內(nèi)容包括各種粉碎、分級、整形、干燥、改性、輸送、除磁等粉體測試，均為后續(xù)研發(fā)、設(shè)計、制造提供可靠保障。

物料試驗可通過致電埃爾派客戶服務(wù)熱線或填寫官網(wǎng)“物料實驗申請單”進(jìn)行預(yù)約，服務(wù)工程師將在24小時內(nèi)與客戶取得聯(lián)系，預(yù)約成功后請在約定時間內(nèi)將實驗物料寄往埃爾派粉體實驗中心。